低銀無鉛錫膏的潤濕性改進與焊點強度測試
來源:優(yōu)特爾錫膏 瀏覽: 發(fā)布時間:2025-07-22
低銀無鉛錫膏(如SAC0307等銀含量≤0.3%的合金)因銀用量減少導(dǎo)致潤濕性和焊點強度下降,需通過材料優(yōu)化、工藝調(diào)控、精準測試三方面系統(tǒng)性改進基于行業(yè)研究與實踐的解決方案:
潤濕性改進技術(shù)(核心挑戰(zhàn):銀含量降低導(dǎo)致界面活性不足)
1. 合金成分協(xié)同優(yōu)化
添加微量活性元素:
鉍(Bi):在SAC0307中添加1.4%Bi(如Sn57.6Bi1.4Ag),可將熔點降至139℃,同時Bi與Sn形成共晶相,提升液態(tài)焊料流動性,潤濕性評級從3級提升至2級(參考摘要9)。
鎳(Ni):添加0.05%Ni(如SnCu0.7Ni0.05),Ni作為表面活性元素可降低焊料/焊盤界面張力,鋪展面積提升15%(參考摘要2)。
碳納米管增強相:
采用鍍鎳碳納米管(鍍層厚度5-10nm),通過機械混合或超聲分散均勻分布于焊膏中。碳納米管可與熔融焊料形成冶金結(jié)合,抑制Cu?Sn?金屬間化合物(IMC)晶粒粗化,同時提升焊料鋪展能力(潤濕性測試中鋪展直徑從3.2mm增至4.1mm,參考摘要3)。
2. 助焊劑體系強化
高活性配方設(shè)計:
活性劑:采用“有機酸+胺類”復(fù)合體系(如谷氨酸+三乙醇胺),酸值控制在20-25mgKOH/g,確保焊盤氧化層高效去除。
溶劑:選用二乙二醇丁醚(沸點171℃)與丙二醇甲醚(沸點120℃)復(fù)配,平衡揮發(fā)性與潤濕性,減少焊接飛濺(參考摘要6)。
抗氧化涂層:
焊粉表面包覆納米Al?O?薄膜(厚度5nm),配合助焊劑中添加0.5%抗壞血酸,可使焊粉氧化增重率從0.3%/月降至0.05%/月,顯著提升焊接時的界面活性(參考摘要1)。
3. 焊接工藝參數(shù)優(yōu)化
回流曲線定制:
預(yù)熱段(100-150℃):升溫速率控制在1-2℃/s,充分激活助焊劑活性。
峰值溫度:比合金液相線高20-30℃(如SAC0307液相線217℃,峰值設(shè)為240-250℃),駐留時間60-80秒,確保焊料充分潤濕(參考摘要7)。
氮氣保護焊接:
回流爐內(nèi)通入99.99%高純氮氣(氧含量<50ppm),可使低銀焊膏潤濕性評級從2級提升至1級,焊點空洞率從12%降至5%以下(參考摘要9)。
焊點強度測試方案(核心指標:剪切強度、跌落可靠性、熱循環(huán)壽命);
1. 基礎(chǔ)力學(xué)性能測試
剪切強度測試:
采用微焊點剪切測試儀(如DAGE 4000),對BGA焊點(直徑0.4mm)施加100-200N的剪切力,記錄斷裂載荷與位移曲線。
低銀錫膏(SAC0307)剪切強度約為35-40MPa,添加0.1%碳納米管后可提升至45-50MPa(參考摘要3)。
拉力測試:
通過推拉力計(如Shimpo FGV-50XY)對QFP引腳(引腳寬度0.3mm)進行垂直拉力測試,合格標準為拉力≥5N(參考摘要7)。
2. 可靠性壽命評估
跌落與振動試驗:
跌落測試:按JEDEC JESD22-B111標準,PCB板從1.5m高度自由跌落至水泥地面,記錄焊點斷裂面積與電阻變化。
低銀錫膏焊點在500次跌落循環(huán)后斷裂面積<30%為合格(參考摘要1)。
振動測試:采用正弦掃頻振動(5-2000Hz,加速度10g),監(jiān)測焊點電阻變化,失效判定標準為電阻突變>10%(參考摘要1)。
熱循環(huán)試驗:
按IPC-9701標準進行-40℃至125℃冷熱循環(huán)(周期30分鐘),每500次循環(huán)后檢測IMC層厚度(要求≤3μm)與焊點裂紋擴展情況。
低銀錫膏添加Ni后,熱循環(huán)壽命可從800次提升至1200次(參考摘要2)。
3. 微觀結(jié)構(gòu)分析
IMC層表征:
采用掃描電鏡(SEM)觀察焊點界面IMC層形貌,低銀錫膏的Cu?Sn?層厚度應(yīng)控制在2-3μm(Ag?Sn相面積占比<5%),避免脆性相導(dǎo)致裂紋(參考摘要3)。
斷口分析:
對失效焊點進行拉斷/剪斷試驗后,通過SEM+EDS分析斷口成分,若發(fā)現(xiàn)大量Ag?Sn或Cu?Sn?脆性相聚集,需調(diào)整合金成分(如降低Ag含量或添加Bi)(參考摘要9)。
技術(shù)組合,低銀無鉛錫膏的潤濕性可達到與高銀錫膏相當?shù)乃?,焊點強度提升20%-30%,同時成本降低30%-40%,滿足消費電子、LED照明
等領(lǐng)域的可靠性要求。實際應(yīng)用中需根據(jù)產(chǎn)品場景(如是否高溫服役)選擇適配的改進方案。